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Zeiss Röntgenmikroskop VersaXRM 730
Das ZEISS Röntgenmikroskop VersaXRM 730 erfüllt die unterschiedlichsten Anforderungen jedes Benutzers und jeder Probe. Entdecken Sie das unbegrenzte P
Produktdetails

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  Zeiss Röntgenmikroskop VersaXRM 730

Ausgezeichnete Tomografie¹, die jedem Anwender und einer Vielzahl von Proben jederzeit gerecht wird Entdecken Sie das unendliche Potenzial der ZEISS VersaXRM 730 mit seinem 40×-Prime-Objektiv und dem preisgekrönten ZEN navx. Mit seiner hervorragenden Bildauflösung definiert das System die Submikron-Bildgebung neu und bietet Ihnen neue bahnbrechende Funktionen für Ihre Forschung. ZEN navx nutzt die Erkenntnisse von intelligenten Systemen, um den Workflow zu vereinfachen und die Ergebnisse einfach und effizient zu erzielen. Eine auf KI basierende Rekonstruktion unterstützt eine hervorragende Bildqualität, DeepRecon Pro erhöht effektiv den Durchfluss, während der FAST-Modus eine Tomografie in einer Minute ermöglicht. Mit der ZEISS VersaXRM 730 eröffnen Sie eine neue Ära der Probenforschung.

蔡司X射线显微镜VERSAXRM730

  Modernisieren Sie Ihre Forschung mit hervorragender Auflösungsleistung

Zeiss 40×-Prime Objektive

蔡司X射线显微镜VERSAXRM730

Das Zeiss VersaXRM 730 verfügt über ein ausgezeichnetes 40×-Prime-Objektiv, mit dem Sie eine ausgezeichnete Bildauflösung von 450 bis 500 nm im gesamten Quellspannungsbereich von 30 kV bis 160 kV erreichen können. Diese Funktion eröffnet den Forschern völlig neue Anwendungsfunktionen und treibt die Entwicklung von Branchenstandards für Submikrometer-Bildauflösungen voran. Darüber hinaus können mit der Zunahme der Röntgenpotone die Ergebnisse verschiedener Proben schneller erhalten werden, ohne die Auflösung zu beeinträchtigen. Zeiss VersaXRM für hohe Auflösung (RaaD) ™) Bekannt für seine Funktionen ist es immer möglich, eine Vielzahl von Probentypen und -größen in hoher Auflösung in einem langen Skalabereich zu bilden. Mit dem 40x-Prime-Objektiv der VersaXRM 730 und einer höheren Energie erleben Sie jetzt Submikron-Bildgebung, die noch nicht einmal passiert hat.

  Qualitätsbilder basierend auf künstlicher Intelligenz

ZEISS DeepRecon Pro in der Advanced Reconstruction Toolbox ZEISS DeepRecon Pro ist ein leistungsstarkes Werkzeug für die XRM-Reconstruktion geworden, daher enthält der VersaXRM 730 eine ART High Performance Workstation und DeepRecon Pro (Lizenz für zwei Jahre).

蔡司X射线显微镜VERSAXRM730

DeepRecon Pro ist eine auf künstlicher Intelligenz basierende Technologie, die für eine Vielzahl von Anwendungen hervorragende Effizienz und Bildqualitätsvorteile bietet. DeepRecon Pro ist sowohl für einzelne Proben als auch für halbe und wiederholte Workflows geeignet. Anwender können nun neue Netzwerkmodelle für maschinelles Lernen unabhängig vor Ort mit einer benutzerfreundlichen Schnittstelle trainieren. Der One-Click-Workflow von DeepRecon Pro ermöglicht es auch Neuanwendern, ohne Experten, die sich mit maschinellem Lernen auskennen, kompetent zu bedienen.

  Informationen zur Kristallstruktur offenbaren

  LabDCT Pro für die Diffraktionsfassungstomografie (DCT)

Das LabDCT Pro für die Diffraction Linear Tomography (DCT) ist ausschließlich für die ZEISS VersaXRM 730 verfügbar und ermöglicht eine verlustfreie 3D-Bildgebung von Kornorientierung und Mikrostrukturen. Die direkte Visualisierung der dreidimensionalen Kornorientierung eröffnet neue Dimensionen der Charakterisierung von polykristallinen Materialien (z. B. Metalllegierungen, geologische Materialien, Keramik oder Pharmazeutika).

蔡司X射线显微镜

LabDCT Pro unterstützt Proben von kubischen symmetrischen Kristallstrukturen bis hin zu niedersymmetrischen Systemen wie Monoschräge-Kristallmaterialien.

Erfassen Sie hochauflösende Kristallinformationen mit speziellen 4X DCT-Objektiven. Bei größeren Proben wird eine hocheffiziente Oberflächenverteilung mit einem Flachplattendetektor (FPX) durchgeführt.

Umfassende dreidimensionale Mikrostrukturanalyse von größeren repräsentativen Volumen und einer Vielzahl verschiedener Probengeometrien.

Studieren Sie die Evolution von Mikrostrukturen mit 4D-Bildgebungsexperimenten.

Kombinieren Sie dreidimensionale Kristallinformation mit dreidimensionalen mikrostrukturellen Merkmalen.

Kombinieren Sie verschiedene Muster, um die Struktur-Attribut-Beziehung zu verstehen.

  Weitere Schritte im Bereich der Auskleidung

Das Dual Scan Linear Visualization System (DSCoVer), das einzigartig für die VersaXRM 730 ist, erweitert die Details, die in einem einzelnen Energieaufnahmebild erfasst werden, durch die Kombination von tomografischen Bildinformationen, die bei zwei verschiedenen Röntgenenergien aufgenommen wurden. DSCoVer (Dual Scan Linear Visualization System) nutzt die Interaktion von Röntgenstrahlen mit der effektiven Atomzahl und -dichte in einem Material, um Ihnen eine bessere Unterscheidungsfähigkeit zu bieten, z. B. durch die Erkennung von Mineraldifferenzen in Felsen und die Unterscheidung von schwer erkennbaren Materialien wie Silizium und Aluminium.

蔡司X射线显微镜VERSAXRM730

  Eine völlig neue Freiheit erreichen

Das Flaggschiff-Produkt VersaXRM 730 bietet zusätzliche Funktionen und Bildgebungsfunktionen.

Verbessern Sie die Scangeschwindigkeit und Genauigkeit von großen, flachen oder unregelmäßigen Proben mit fortschrittlichen Erfassungstechnologien wie der HART (High Vertical Relative Tomography).

蔡司X射线显微镜VERSAXRM730

Flexible Bildgebung großer Proben mit dem Breitfeldmodus (WFM) kann verwendet werden, um ein Bild horizontal zu splitzen, um ein breiteres horizontales Sichtfeld zu bilden, eine höhere Bodendichte für ein gegebenes Sichtfeld zu bieten oder ein breites horizontales Sichtfeld und ein größeres dreidimensionales Volumen für große Proben zu bieten.

Der Automatische Filterumwandler (AFC) ermöglicht eine nahtlose Filterumwandlung ohne manuelle Eingriffe und programmiert und dokumentiert Ihre Auswahl für jedes Rezept.

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