Kunshan Yushu neue Materialien Co., Ltd.
Startseite>Produkte>ZEISS LSM 900 Kofokusmikroskop für die Materialforschung
Firmeninformationen
  • Transaktionsebene
    VIP-Mitglied
  • Kontakt
  • Telefon
    15262626897
  • Adresse
    Zimmer 1001, Jiayu Square, Chunhui Road, Kunshan
Kontaktieren jetzt
ZEISS LSM 900 Kofokusmikroskop für die Materialforschung
Fortgeschrittene Bildgebung und Oberflächenmorphanalyse mit Multifunktions-Kofokussmikroskop Das Laser-Scan-Kofokussmikroskop (CLSM) von ZEISS LSM 900
Produktdetails

Produktdetails

Multifunktionalität für erweiterte Bildgebung und OberflächenmorphanalyseKofokussiertes Mikroskop

  ZeissDas LSM 900 Laser Scan Cofocal Microscope (CLSM) ist ein Instrument für die Materialanalyse zur Charakterisierung dreidimensionaler Mikrostrukturen und Oberflächenformationen im Labor oder in Mehrbenutzeranlagen. Der LSM 900 ermöglicht die präzise 3D-Bildgebung und Analyse von Nanomaterialien, Metallen, Polymeren und Halbleitern. Mit dem ZEISS Axio Imager.Z2m Vertikalmikroskop oder dem ZEISS Axio Observer 7 Umkehrmikroskop auf den LSM 900 Kofokus-Scannerkopf können Sie alle Funktionen mit allen optischen Mikroskop-Beobachtungsmodi sowie dem hochpräzisen Kofokus-Oberflächen-3D-Bildgebungsmodus einfach in einem integrieren. Die Verwendung dieser Funktionen erfordert keinen Wechsel des Mikroskops und Sie können in situ beobachten, was viel Zeit spart. Auch die Automatisierung erleichtert Ihre Datenerfassung und -nachbearbeitung. Darüber hinaus bietet der LSM 900 die Vorteile der kontaktlosen Kofokusbildgebung, wie z.B. die Beurteilung der Oberflächenrauhe.

 Vorteile

失效分析,手机显示屏上磨损测量

Kombination optischer Mikroskopie und Kofokussbildgebung

Die LSM High-End-Kofokus-Plattform LSM 900 wurde speziell für anspruchsvolle Materialanwendungen in 2D und 3D entwickelt.

Sie können kontaktlose Kofokusbildgebung verwenden, um die morphologischen Merkmale der Probe zu charakterisieren und die Oberflächenrauhe zu bewerten

Beschichtungs- und Foliendicke verlustfrei bestimmen

Sie können eine Vielzahl von Bildgebungsmethoden anwenden, einschließlich Polarisations- und Fluoreszenzmikroskographie im optischen Beobachtungsmodus oder im Kofokussmodus

Charakterisieren Sie Goldphasenproben unter reflektiertem Licht und Stein- oder Polymerflachenproben unter durchlässigem Licht.

  

LSM采集向导

  Effiziente Probenforschung

Es gibt viele Möglichkeiten, neue Materialien und Strukturen zu bilden und zu analysieren, ohne das Mikroskop zu wechseln, um die Einrichtungszeit des Instruments zu verkürzen und die Ergebnisse effizienter zu erzielen.

Optimieren Sie Ihren Prozess mit der automatisierten Datenerfassung an mehreren Stellen in der Probe.

Sie können flexibel Ihre Interessenbereiche auf dem Profilbild definieren und nur die Bereiche erfassen, die Sie benötigen.

Mit einem Scanbereich von bis zu 6.144 x 6.144 Pixeln können Sie flexibel die Größe und sogar die Richtung des Scanbereichs festlegen

Vollständige Kontrolle über Daten und deren Nachverarbeitung

  

LSM 900 - 设置

Bildbereich erweitern

  Die Co-Focus-Geräte erweitern Ihre Breitfeldanalyse:

Wenn Sie das Axio Imager.Z2m Vertikalmikroskop oder das Axio Observer 7 Umkehrmikroskop mit dem LSM 900 Cofocus Scanner-Kopf aktualisieren, können Sie die Vielfalt der Hardware wie Objektive, Tragstische, Lichtquellen usw. sowie der Software und Schnittstellen nutzen.

Die optionale ZEN Intellesis Software bietet eine maschinelles Lernen-basierte Bildaufteilungslösung zur Erkennung verschiedener Phasengruppen.

Fügen Sie ZEN Connect hinzu, um Bilder aus beliebigen Quellen zu überlagern und zu verarbeiten

Intelligentes Datenmanagement mit ZEN Data Storage

Erweitern Sie Ihre Kofokusmikroskopfunktionen mit dem Shuttle&Find assoziierten Mikrotechnologie-Modul, um vom optischen Mikroskop zum Elektronenmikroskop zu wechseln und umgekehrt. Effektive Kombination von Bildgebungs- und Analysemethoden. Erhalten Sie Probeninformationen in Materialanalyseanwendungen. Der Prozess ist vollständig wiederholbar.

  3D-Bildgebung der gesamten Probe

Das LSM 900-Mikroskopsystem verwendet den Laser als Lichtquelle, erfasst das Laserreflexionssignal der Probe mit einer bestimmten Schnittdicke und scannt den Bildstapel auf dreidimensionaler Höhe, um die Schnittfläche zu erhalten. Ein kleiner Lichtstreifen (häufig als Nadelloch bezeichnet) wird im optischen Weg eingestellt, der nur Licht aus der fokussierten Ebene durchlässt und das Licht aus der nicht-fokussierten Ebene blockiert, das in den Detektor gelangt.

Um die Lichtschneidfläche zu bilden, muss der Laserstrahl auch in X- und Y-Richtung gescannt werden. Beim Scannen werden Informationen auf der Fokusebene hell angezeigt, während Informationen auf der Nicht-Fokusebene schwarz angezeigt werden.

Durch die relative Positionierung von Proben und Objektiven können eine Reihe von Lichtschneidbildern entlang der Höhenrichtung verlustfrei erhalten werden.

Durch die Analyse der Helligkeitsveränderungskurve an einzelnen Pixelpositionen auf horizontalen Bildern können Objekthöhenwerte für die aktuelle Pixelposition ermittelt werden. Durch die Zusammenfassung der Höheninformationen über alle Pixelpositionen im gesamten Sichtfeld entsteht ein Höhendiagramm über den Testbereich.

  Objektive

C Epiplan-APOCHROMAT Hochleistungsobjektiv für Kofokus

Die Objektive der Serie C Epiplan-APOCHROMAT mit der Korrektur des multiplen Farbdifferenzfelds erfüllen die hohen Anforderungen der reflektierten Lichtanwendungen.

Diese Linie von Objektiven garantiert einen ausgezeichneten Bildkontrast im sichtbaren Spektrumbereich sowie eine hohe Durchlässigkeit.

Auch im Breitfeldbeobachtungsmodus können gute Differenzierungsinterferenzen sowie klare fluoreszierende Bilder erzielt werden.

Das Objektiv C Epiplan-APOCHROMAT ist speziell für die kofokurale Bildgebung konzipiert und ermöglicht eine geringste Bildabweichung im gesamten Sichtfeld bei einer Laserwellenlänge von 405 nm. Mit diesem Objektiv können bessere morphologische Daten mit weniger Störgeräuschen und Falsifikationen erzeugt werden, was zu mehr Oberflächendetails der Probe führt.

  Software

OAD: Schnittstelle zur ZEN Imaging Software

Die ZEISS LSM 900 enthält die neueste Version der ZEN Imaging Software, die eine Open Application Development (OAD) Schnittstelle für den Datenaustausch enthält.

Passen Sie Ihren Arbeitsablauf an und automatisieren Sie ihn. Wenn die Basisversion der ZEN-Software Ihre Bedürfnisse nicht erfüllt, können Sie Daten mit bestehender Analyse- und Forschungssoftware von Drittanbietern wie MATLAB austauschen.

Sie können Makrolösungen selbst erstellen. Einfacher Zugang zu einer Reihe von wichtigen Funktionen von ZEN sowie. Möglichkeiten für Komponentenbibliotheken wie Net Framework.

3D-Oberflächenanalyse mit ConfoMap

ConfoMap ist ideal für die 3D-Darstellung und Analyse von Oberflächen.

Qualitäts- und Funktionsbewertung der Oberflächenleistungen nach den neuesten Messnormen wie ISO 25178.

In der Software können Sie umfangreiche Geometrie-, Funktions- und Rauheitsstudien von Bildern durchführen und detaillierte Oberflächenanalyseberichte erstellen.

Neue optionale Module für die erweiterte Oberflächentexturanalyse, Konturanalyse, Korn- und Partikelanalyse, 3D-Fourier-Analyse und Oberflächenentwicklungsanalyse und -statistik.

  Laserkonfiguration

Auswahl verschiedener Lasermodule je nach Anwendung

Erweitern Sie den Anwendungsbereich des Kofokussmikroskops mit zwei Optionen:

Das Einkanalsystem mit UV-Lasermodul (405 nm Wellenlänge) entspricht den Laserprodukten der Kategorie 2. Seine kurzen Wellenlängen ermöglichen eine Bildgebung mit einer horizontalen Auflösung von bis zu 120 nm.

Wenn Sie Anwendungen wie die Zellwachstumsbilderung auf Biomaterialien ausführen, können Sie den LSM 900 mit vier Laserwellenlängen konfigurieren – URGB-Lasermodule mit 405, 488, 561 und 640 nm. Diese Multi-Stimulation-Wellenlänge hilft Ihnen bei der Bildgebung der Verteilung von fluoreszierenden Farbstoffen.

Online-Anfrage
  • Kontakte
  • Unternehmen
  • Telefon
  • E-Mail
  • WeChat
  • Prüfcode
  • Nachrichteninhalt

Erfolgreicher Betrieb!

Erfolgreicher Betrieb!

Erfolgreicher Betrieb!