Die FIB-SEM der Zeiss Crossbeam-Serie verbindet die ausgezeichneten Bild- und Analyseleistungen von Feld-Emissions-Scan-Elektronenmikroskopen (FE-SEM) mit den ausgezeichneten Bearbeitungsleistungen von Fokussierten Ionenstrahlen (FIB) der neuen Generation. Ob in Forschungs- oder Industrielaboren, Sie können mehrere Benutzer gleichzeitig auf einem Gerät bedienen. Dank des modularen Plattformkonzepts der Zeiss Crossbeam-Serie können Sie Ihr Instrumentensystem jederzeit nach Ihren Bedürfnissen aktualisieren. Bei der Bearbeitung, Bildgebung oder der Realisierung von 3D-Rekonstruktionsanalysen verbessert die Crosssbeam-Serie Ihr Anwendungserlebnis erheblich.

Mit dem elektronischen optischen System Gemini können Sie echte Probeninformationen aus hochauflösenden SEM-Bildern extrahieren

Mit dem neuen Ion-sculptor FIB-Objektiv und einer völlig neuen Methode zur Probenbehandlung können Sie die Probenqualität maximieren, die Probenschäden reduzieren und gleichzeitig den experimentellen Betrieb erheblich beschleunigen.

Mit der Niederspannungsfunktion des Ion-sculptor FIB können Sie ultradünne TEM-Proben vorbereiten und gleichzeitig die nicht kristallisierten Schäden auf sehr gering reduzieren

Variable Luftdruckfunktion mit Crossbeam 340

Oder für anspruchsvollere Charakterisierung mit dem Crossbeam 550, der Ihnen noch mehr Wahlmöglichkeiten bietet

　　EM-Probenvorbereitungsprozess

Folgen Sie den folgenden Schritten, um die Probenarbeit effizient und qualitativ hochwertig abzuschließen

Crossbeam bietet eine komplette Lösung zur Herstellung von ultradünnen, qualitativ hochwertigen TEM-Proben, mit denen Sie die Proben effizient vorbereiten und die Analyse von Transmissionsbildmustern auf TEM oder STEM realisieren können.

Automatische Positionierung – Einfache Navigation in den Regionen von Interesse (ROI)

Sie können Ihr Interessengebiet (ROI) mühelos finden

Positionierung der Probe mit der Navigationskamera des Probenaustauschraums

Die integrierte Benutzeroberfläche ermöglicht es Ihnen, Ihren ROI einfach zu erzielen

Breite Sichtfeld, verzerrungsfreie Bilder auf SEM

2. Automatische Probenarbeit - Vorbereitung von Flächenproben vom Körpermaterial an

Sie können die Probe in drei einfachen Schritten vorbereiten: ASP (Automatische Probenvorbereitung)

Definierte Parameter umfassen Driftkorrektur, Oberflächenablagerung und grobes, feines Schneiden

Das Ionenoptiksystem der FIB-Spiegel sorgt für einen extrem hohen Durchfluss

Exportieren Sie die Parameter als Kopie, um wiederholte Vorgänge für die Volumenvorbereitung zu ermöglichen

3. Einfacher Transfer - Probenschneiden, Transfer-Mechanisierung

Import eines Roboters, um eine dünne Probe an der Nadelspitze des Roboters zu schweißen

Schnitten und Trennen von Flächenproben mit dem Verbindungsteil des Probenmaterials

Die Folien werden dann extrahiert und in das TEM-Gitter-Netz übertragen.

4. Probenverdünnung - ein entscheidender Schritt zur Erhaltung hochwertiger TEM-Proben

Das Instrument ist so konzipiert, dass der Benutzer die Probendicke in Echtzeit überwachen kann und schließlich die gewünschte Zieldicke erreicht.

Sie können die Flächendicke gleichzeitig beurteilen, indem Sie Signale von zwei Detektoren sammeln. Einerseits kann die Enddicke mit hoher Wiederholbarkeit mit dem SE-Detektor ermittelt werden und andererseits kann die Oberflächengüte mit dem Inlens SE-Detektor gesteuert werden.

Vorbereiten Sie qualitativ hochwertige Proben und reduzieren Sie die nicht kristallisierten Schäden auf vernachlässigbare Punkte