XJL-302DIC ist ein großes positionales Differenzial-Interferenzfasenmikroskop für die reflektierende Differenzial-Interferenzfasenmikroskopbeobachtung der Oberflächenform undurchsichtiger Objekte geeignet. Mit einem ausgezeichneten endlosen Fernoptiksystem und einem modularen Funktionsdesignkonzept kann das System leicht aufgerüstet werden, Polarisationsbeobachtung, Differenzierungsinterferenzfasenbebeobachtung und andere Funktionen erreicht werden, und der kompakte, stabile und hochsteife Körper spiegelt die Vibrationsschutzanforderungen des Mikrobetriebs vollständig wider. Ein ideales Design, das den ergonomischen Anforderungen entspricht, macht den Betrieb bequemer und komfortabler und bietet größeren Raum. Für die mikroskopische Beobachtung von Metallphase-Gewebe und Oberflächenformationen ist es das ideale Instrument für die Metallologie, Mineralogie und Präzisionstechnikforschung.